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来因科技植被盖度仪IN-GD10，该系统根据图像识别原理实现自动分析，用于植被覆盖度的精确测量，也可用于植被郁闭度的测量。支持自动和手动阈值调节，自动区分植被与非植被区域，测量准确度不低于90%。成像设备128G存储、2420万像素，支持18-45mm广域焦距与光学变焦，配可移动三脚架。支持10米无线连接成像设备，户外无网络环境也可连接使用，并可远程控制相机在线拍照分析。
来因科技便携式植被盖度监测仪IN-GD10，该系统根据图像识别原理实现自动分析，用于植被覆盖度的精确测量，也可用于植被郁闭度的测量。成像设备128G存储、2420万像素，支持18-45mm广域焦距与光学变焦，配可移动三脚架。支持10米无线连接成像设备，户外无网络环境也可连接使用，并可远程控制相机在线拍照分析。适配安卓移动客户端，软件内置植被、土壤特征模型，支持广泛地域植被盖度和郁闭度测量计算。
来因科技植被盖度监测仪IN-GD20，该系统根据图像识别原理实现自动分析，用于植被覆盖度和郁闭度的精确测量。800万像素摄像设备，25倍电动光学变焦，2mm-125mm广域焦距，镜头支持360度水平旋转。10寸彩色触摸屏分析主机，支持自动与手动阈值调节，自动区分植被与非植被区域。依据北斗卫星定位信息实现白天自动采集，采集与传输间隔可设半小时至72小时。
来因科技便携式农作物生长监测设备IN-G30鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。
来因科技移动式作物生长监测站 冠层分析仪IN-G20鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。
来因科技叶面积指数测量仪 冠层分析仪IN-G20采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中精确和省力、省时、快捷方便的方法。
来因科技叶面积指数测定仪IN-G30采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中精确和省力、省时、快捷方便的方法。
来因科技植物根系扫描仪IN-GX02能进行根系的颜色分析，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
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